可测试性设计(可测试性设计) VLoG 101次浏览 更新时间:2023-01-15 可测试性设计 可测试性设计 可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。 基本介绍电路测试有时并不容易,这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构,例如扫描链等,内部信号可以暴露给电路外部。总之,在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度,看似增加了成本,但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。
基本介绍电路测试有时并不容易,这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构,例如扫描链等,内部信号可以暴露给电路外部。总之,在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度,看似增加了成本,但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。